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            ict上IC的測試

            日期:2021-10-05 08:17
            瀏覽次數:3707
            摘要:

            ICT上IC的測試:
            1
            開短路測試法

              測試IC各腳的開短路來測試我出不佳

            2,保護二極體測試法

              每個IC都對地和電源有一個反向二極體,通過測試此反向二極體來測試IC的缺件,空焊,反插等不佳現像

            3,HP TESTJET量測法(ivetp)

            HP TestJetTechnology 是量測感測應器與IC 腳框之間的電容量來偵測IC 接腳的空焊。

            1) 由于采用ReedRelay ScannerBoard,Guarding 能力強,因此測試效果好。

             

            2) 由于干擾處理能力強,因此對SMD

                Type Connector的量測相當可靠

            3) 其對IC的可測率達到95%以上

            4 ISSCAN功能測試

             此技術是我公司磚利技術,測試并聊IC的開短.

            5功能測試還支持

             1)穩壓管的穩壓值測試

             2)LED的測試

             3)電機馬達的測試
            ict上IC的測試

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